ATX‑XR 系列LVDT线性位移传感器核心优势在于卓越的耐辐照性能,专为强辐射、极端温域等严苛环境下的位移精准测量而研发设计。该传感器的抗辐照能力突出,可从容应对强辐射恶劣环境:即便经受 总积分中子通量 3×10²⁴ n/m²、γ射线总积分辐射剂量10⁹ Gy 的强辐照后,仍能严格遵循规格指标,保持稳定可靠的运行状态,可满足核工业等强辐射环境的严苛使用需求。
除出众的耐辐照性能外,该传感器的高低温适应能力同样出色,可适配极宽温域工作场景。其可在 −200°C~+550°C 的宽温范围内连续稳定工作,非工作状态下更可耐受最高达 600°C 的极端高温,兼顾深低温与超高温环境的使用需求,凭借超强温域适配能力,应对各类严苛温域应用场景。
ATX‑XR 系列采用100%无机材料制造,所有选材均经过严格筛选,确保各组件热膨胀系数高度匹配,从而最大限度降低温度变化引发的热应力,避免组件变形或性能衰减。所有接缝及接头均采用高温合金进行焊接或铜焊处理,保障结构密封性与耐高温稳定性;引线采用不锈钢护套封装,兼顾耐温、绝缘与抗干扰性能。
ATX‑XR 系列可适配 ABEK SENSORS 所有 LVDT 信号调理器、控制器及显示仪表。