50년 이상 동안 LVDT 선형 변위 센서는 다양한 실험실, 산업, 군사 및 항공우주 분야에서 신뢰할 수 있는 선형 위치 피드백 도구로 사용되어 왔습니다. LVDT는 고유한 신뢰성을 지닌 장치로, 0.1mm에서 1000mm에 이르는 고정밀 선형 변위 측정이 가능하며 광범위한 작동 온도 범위에 적합합니다.
온도 변화가 출력 신호에 미치는 영향
온도 변화는 LVDT의 출력 신호에 두 가지 방식으로 영향을 미칠 수 있으며, 여기에는 기계적 팽창과 LVDT의 전기적 특성 변화가 포함됩니다. 기계적 팽창은 LVDT 코어와 LVDT 권선 사이에 상대적 운동을 유발합니다. 온도 변화는 LVDT의 출력 신호에 두 가지 방식으로 영향을 미칠 수 있습니다. 기계적 팽창과 LVDT의 전기적 특성 변화가 그것입니다. 기계적 팽창은 LVDT 코어와 권선 사이에 상대적 운동을 유발합니다.
궁극적으로 이는 코어의 비정상적인 움직임을 신호로 전달하여 제로점 이동 오차를 발생시킵니다. 온도는 또한 LVDT의 1차 입력 전류나 코어 재료의 자기적 특성을 변화시켜 LVDT의 전기적 특성에 영향을 미칠 수 있습니다. 이는 스케일 팩터 변화나 이동량 이동 오차를 초래할 수 있습니다.
AC LVDT
AC LVDT 센서는 외부 신호 조정기를 장착할 수 있으므로, AC LVDT 위치 센서는 최대 500°C의 온도에서 작동할 수 있습니다.
DC LVDT
DC LVDT는 센서 본체 내에 전자 장치를 포함하고 있기 때문에, 전자 신호 처리 모듈 내 전자 부품의 재료 특성으로 인해 온도 제약이 적용됩니다. 일반적으로 -20°C에서 80°C의 온도 범위를 사용합니다.
DC LVDT 위치 센서는 온도가 거의 일정할 경우 -40°C까지의 온도에서 작동할 수 있습니다.
주변 온도
주변 온도 변화는 교류 전원 및 직류 전원 LVDT의 작동에 예측 가능한 영향을 미칩니다. 신호 조정기는 교류 LVDT의 1차 전류 변동을 보정하는 데 도움이 될 수 있지만, 직류 LVDT는 공간 제약으로 인해 이 방법을 사용할 수 없습니다.
온도가 재료에 미치는 영향
온도 변화는 LVDT 코어 재료의 자기 특성에 거의 영향을 미치지 않으며, 정상 작동 온도 범위 내에서 LVDT에 미치는 영향은 무시할 수 있을 정도로 작습니다. LVDT 재료의 열팽창 계수 효과를 상쇄하기 위해, LVDT는 출력 코일이 중심에서 끝까지 대칭적으로 배치된 출력 구조로 설계되었습니다.
새로운 제조 기술과 소재를 통해 LVDT는 극한의 고온 및 저온을 포함한 가혹한 환경에서도 작동할 수 있습니다.
ABEK 센서는 500°C의 고온 환경부터 -200°C의 저온 환경까지 연속 작동이 가능한 맞춤형 LVDT를 설계할 수 있습니다. LVDT는 다양한 크기와 규격으로 제공됩니다.
온도에 의한 저항 변화
LVDT 코일의 온도 상승은 1차 및 2차 코일에 일반적으로 사용되는 구리선의 저항을 증가시킵니다. 이 저항 증가의 가장 즉각적인 결과는 1차 임피던스의 증가입니다.
1차 전류 안정성
온도 효과에 대한 해결책으로 정전류 구동원이 명백하지만 항상 실용적인 것은 아니다. 정전류 공급원이 없을 경우, 1차 측에 큰 외부 저항을 직렬로 연결함으로써 1차 전류를 어느 정도 안정화할 수 있다.
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